Lisans veya devir verilmek istenen patent, faydalı model veya tasarım korumalı teknolojilere ilişkin bilgilere buradan ulaşabilirsiniz.
Türkçe/Turkish
İngilizce/English
Binoküler steroskopik taramalı radyografik görüntülemeye yönelik usul ve sistem.
İlan Tarihi:
21.11.2013
Lisans verme
|
|
Patent
|
|
2010/07949
|
|
Binoküler steroskopik taramalı radyografik görüntülemeye yönelik usul ve sistem.
|
|
Binoküler steroskopik taramalı bir radyografik görüntüleme usulünde, aynı radyasyon kaynağından yayılan X ışınları kullanılmaktadır. X ışınları çift yarıklı bir kolimatörden geçerek, simetrik veya asimetrik olan ve aralarında belirli bir açıya sahip bulunan iki X ışını sektörünü oluşturmaktadır. X ışını sektörleri inceleme altındaki bir nesnenin içine nüfuz ettikten sonra, sırasıyla sol ve sağ detektör dizisi tarafından alınmakta, ardından ilgili görüntü elde etme sistemlerine girdi olarak verilecek elektrik sinyallerine dönüştürülmekte ve resim işleme ve görüntülemeye yönelik bir bilgisayarlı işleme sistemi tarafından alınmaktadır. Usule karşılık gelen bir sistem bir radyasyon kaynağını, bir ışın kontrolcüsünü, karşılıklı olarak bağlı iki detektör dizisi kolunu, sırasıyla detektör dizilerinden her birine bağlanan görüntü elde etme sistemlerini ve bir bilgisayarlı işleme sistemini içermektedir. Mevcut buluş detektör dizilerinin her biri tarafından algılanan iletim görüntülerini ve ayrıca paralaks (kaçkınlık) ilkesine göre iletim görüntülerinden yola çıkarılarak tekrar yapılandırılmış olan farklı derinlikteki tomogramları görüntüleyebilmektedir. Mevcut buluş kullanışlı ve hızlı algılama yapabilir özelliktedir ve farklı derinliklerdeki nesnelerin taranması işlemini düşük bir maliyetle gerçekleştirmektedir.
|
|
|
|
|
|
|
|
- İletişim
- İlgili Dokümanlar
- TÜRKPATENT Detay Göster
-
Adı SoyadıTÜLİN DÜNDAR
-
Unvanı / GöreviPatent Vekili
-
Kurumu/KuruluşSTOK SINAİ MÜLKİYET HİZM. A.Ş.
-
Telefon0-212-3243100
-
E-posta-
-
AdresBÜYÜKDERE CAD. NO:173 LEVENT - ŞİŞLİ- 34394/İSTANBUL